關(guān)于硬盤故障的原因

　　造成硬盤故障的原因有很多，主要有硬盤壞道、硬盤供電問題、硬盤分區(qū)表故障、接口電路故障、磁頭芯片故障、電機驅(qū)動芯片故障、主軸電機和磁頭故障。下面是小編收集的資料，供大家參考!

　　1、硬盤的連接或設(shè)置錯誤

　　硬盤的數(shù)據(jù)線或電源線和硬盤接口接觸不良，造成硬盤無法正常工件、在同一要數(shù)據(jù)線上連接兩個硬盤，而硬盤的跳線沒有正確設(shè)置，造成BIOS無法正確識別硬盤。

　　2、硬盤供電問題

　　硬盤的供電電路如果出現(xiàn)了問題，會直接導(dǎo)致硬盤不能正常工作。造成硬盤不通電、硬盤檢測不到、盤片不轉(zhuǎn)、磁頭不尋道等故障。供電電路常出問題的部位是：插座的接線柱、濾波電容、二極管、三級管、場效應(yīng)管、電感、保險電阻等。

　　3、接口電路故障

　　接口是硬盤與電腦之間傳輸數(shù)據(jù)的通道，接口電路出現(xiàn)故障有可能會導(dǎo)致檢測不到硬盤、亂碼、參數(shù)誤認(rèn)等現(xiàn)象。接口電路容易出現(xiàn)故障的部位是接口芯片與之匹配的晶振損壞、接口插針斷裂、接口排阻損壞。

　　4、磁頭芯片故障

　　芯片出現(xiàn)問題可能會出現(xiàn)磁頭不能正確尋道、數(shù)據(jù)不能寫入盤片、不能識別硬盤、有異響等故障現(xiàn)象。

　　5、電機驅(qū)動芯片故障

　　用于驅(qū)動硬盤主軸電機和音圈電機。現(xiàn)在的硬盤由于轉(zhuǎn)速太高導(dǎo)致芯片的發(fā)熱量大而損壞。據(jù)不完全統(tǒng)計，70%左右的硬盤電路故障是由芯片損壞引起的。

　　6、硬盤壞道

　　硬盤由于經(jīng)常非法關(guān)機或使用不當(dāng)造成壞道，導(dǎo)致電腦系統(tǒng)文件損壞或丟失，電腦無法啟動或死機。

　　7、硬盤引導(dǎo)區(qū)損壞

　　由于感染了引導(dǎo)型病毒，硬盤的引導(dǎo)區(qū)被修改，導(dǎo)致電腦無法正常讀取硬盤，此故障通常提示lnvalid partiton tabel信息。

　　8、硬盤被邏輯鎖鎖住

　　由于被“黑客”攻擊，電腦的硬盤被邏輯鎖鎖住，導(dǎo)致硬盤無法正常啟動。

　　9、分區(qū)表丟失

　　由于病毒破壞造成硬盤分區(qū)表損壞或丟失，將導(dǎo)致系統(tǒng)無法啟動。

　　10、其它部件損壞

　　包括主軸電機、磁頭、音圈電機、定位卡子等損壞，將導(dǎo)致硬盤無法正常工作。

　　硬盤各部位常見故障匯總：

　　1）硬盤的供電：硬盤的供電取自主機的開關(guān)電源，四個接線柱的電壓分別為：紅色為正5V，黑色為地線，黃色為正12V，通過線性電源變換電路，變換為硬盤正常工作的各種電壓。硬盤的供電電路如果出現(xiàn)問題，會直接導(dǎo)致硬盤不能工作。故障現(xiàn)象往往表現(xiàn)為不通電、硬盤檢測不到、盤片不轉(zhuǎn)、磁頭不尋道等。供電電路常出問題的部位是：插座的接線柱、濾波電容、二極管、三極管、場效應(yīng)管、電感、保險電阻等。

　　2）接口：接口是硬盤與計算機之間傳輸數(shù)據(jù)的通路，接口電路如出現(xiàn)故障可能會導(dǎo)致硬盤檢測不到、亂碼、參數(shù)誤認(rèn)等現(xiàn)象。接口電路常出故障的部位是接口芯片或與之匹配的晶振壞、接口插針斷或虛焊或臟污、接口排阻損壞，部分硬盤的接口塑料損壞導(dǎo)致廠家不予保修。

　　3）緩存：用于加快硬盤數(shù)據(jù)傳輸速度，如出現(xiàn)問題可能會導(dǎo)致硬盤不被識別、亂碼、進入操作系統(tǒng)后異常死機等現(xiàn)象。

　　4）BIOS：用于保存與硬盤容量、接口信息等，硬盤所有的工作流程都與BIOS程序相關(guān)，通斷電瞬間可能會導(dǎo)致BIOS程序丟失或紊亂。BIOS不正常會導(dǎo)致硬盤誤認(rèn)、不能識別等各種各樣的故障現(xiàn)象。

　　5）磁頭芯片：貼裝在磁頭組件上，用于放大磁頭信號、磁頭邏輯分配、處理音圈電機反饋信號等，該芯片出現(xiàn)問題可能會出現(xiàn)磁頭不能正確尋道、數(shù)據(jù)不能寫入盤片、不能識別硬盤、異響等故障現(xiàn)象。

　　6） 前置信號處理器：用于加工整理磁頭芯片傳來的數(shù)據(jù)信號，該芯片如出現(xiàn)問題可能會出現(xiàn)不能正確識別硬盤的故障現(xiàn)象。

　　7）數(shù)字信號處理器：用于處理前置信號處理器傳過來的數(shù)據(jù)信號，并對該信號解碼或接收計算機傳過來的數(shù)據(jù)信號，并對該信號進行編碼。

　　8）電機驅(qū)動芯片：用于驅(qū)動硬盤主軸電機和音圈電機。現(xiàn)在的硬盤由于轉(zhuǎn)速太高導(dǎo)致該芯片發(fā)熱量太大而損壞，據(jù)不完全統(tǒng)計，70% 左右的硬盤電路路障是由該芯片損壞引起。

　　9）盤片：用于存儲硬盤數(shù)據(jù)，輕微劃傷時可通過軟件按一定的算法解碼糾錯，嚴(yán)重劃傷時，數(shù)據(jù)不可恢復(fù)。

　　10）主軸電機：用于帶動盤片高速旋轉(zhuǎn)，現(xiàn)在的硬盤大多使用液態(tài)軸承馬達，精度極高，劇烈碰撞后可能會使間隙變大，讀取數(shù)據(jù)變得困難、異響或根本檢測不到硬盤。該故障現(xiàn)象需用專用設(shè)備才能讀取里面的數(shù)據(jù)。

　　11）磁頭：用于讀取或?qū)懭胗脖P數(shù)據(jù)，受到劇烈碰撞時易于損壞，導(dǎo)致不認(rèn)硬盤。硬盤受到碰撞后受損可能性更大的是磁頭。

　　12）音圈電機：閉環(huán)控制電機，用于把磁頭準(zhǔn)確定位在磁道上。該電機較少損壞。

　　13）定位卡子：用于使磁頭停留在啟停區(qū)，IBM等系列的硬盤的卡子易錯位，導(dǎo)致磁頭不能正常尋道。在無開盤維修條件的情況下，可按一定的角度適當(dāng)敲擊硬盤，使卡子回復(fù)到正確位置。

　　硬盤電機驅(qū)動芯片打阻值：

　　硬盤電機驅(qū)動芯片是硬盤電路部分最易損壞的芯片，70%左右的硬盤電路故障是由該芯片損壞引起。而電機驅(qū)動芯片到底是否損壞可通過芯片周圍引腳對地打阻值來大致判斷。下列表格是常見硬盤電機驅(qū)動芯片各引腳對地反向阻值表。用于確認(rèn)電機驅(qū)動芯片是否損壞。數(shù)據(jù)測試采用9205型數(shù)字萬用表，紅表筆接地，黑表筆指向被測引腳。

　　對于只有兩面有引腳的芯片，從第一個引腳開始按逆時針方向的引腳用兩列數(shù)字來表示，其中第一列表示的是第一面的阻值，第二列表示第二面的阻值。

　　對于四面都有引腳的芯片，從第一個引腳開始按逆時針方向的引腳用四列數(shù)字來表示，其中第一列表示的是第一面的阻值，第二列表示第二面的阻值，第三列表示第三面的阻值，第四列表示第四面的阻值。

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